Kövess minket!

NewsletterGoogle+RSS
Feliratkozom a heti hírlevélre

Utolsó hozzászólások

2017. 07. 27. - 09:10KGabi

Mi is tudunk munkát adni: mérnököknek  Jooble 

2017. 06. 20. - 20:31Hitetlen Tamás

Ez a cikk egy idealista naíva.

A cél dátum 2067-2117. A holdrajutás 1968(?) Marsra még csak szonda és robot jutott.

A Bioszféra 2 program megbukott. Voltak sikeresebb kísérletek, de kísérletek.

2017. 05. 23. - 09:12Anonymous

Hiya very cool web site!! Guy .. Excellent .. Superb

.. I'll bookmark your blog and take the feeds also? I'm satisfied to find numerous helpful info here in the put

up, we need develop extra techniques on this regard, thank you for sharing.

. . . . .

Bepillantás a mikrochipek világába

2017.05.29.
Egy új tomográfiai eljárás képes megmutatni a tervezési hibákat a nanométer méretű chipek szerkezetében.

Fejlett minőségellenőrzés: kutatók részletes 3 dimenziós képet készítettek a mikrochipek belső világáról röntgensugár segítségével, mely a 15 nanométeres felbontást is elérheti. A módszer alkalmas lehet a jövőbeni chipek roncsolásmentes vizsgálatára, mellyel kiküszöbölhetőek a lehetséges építés közben előforduló hibák, számol be minderről a „Nature” szaklap.

 

Mikrochip 3 dimenziós szerkezeti tervrajza – a képet számos egyedi röntgenfelvétel alkotja (© Paul Scherrer Institut(Mirko Holler))

A mikrochipekben található áramkörök, tranzisztorok és egyéb elemek egyre kisebbé és kisebbé válnak. Ez a trend meglehetősen bonyolulttá és körülményessé teszi a már legyártott chipek hiba utáni keresését: jelenleg a chipeket rétegeire bontják és a különálló darabokat a minőségbeli hiányosságok megtalálása érdekében elektronmikroszkóp alatt vizsgálják. A módszer hátránya nyilvánvaló: a chipek a vizsgálat során tönkre mennek. Ezenfelül gyakran a torzítás is megjelenik, ami a chip szerkezetéről készült pontos képet meghamisítja.

3D-s kép a perspektíva változtatásával

Mirko Holler és kollégái a Villigen-i Paul Scherrer Intézettől egy olyan alternatív eljárást fejlesztettek ki, ami lehetővé teszi a mikrochipek roncsolásmentes vizsgálatát. Az úgynevezett ptychotomográfia képes a mintegy 15 nanométeres nagyságú képalkotásra, mely kellő mélységbe hatol be az anyagba, ismertetik a kutatók.

A kísérlethez kutatók a chipnek egy 200 nanométeres részét használták, amelyet egy szinkrotronból érkező intenzív, kollimált röntgensugárral világítottak meg. A besugárzás során egy detektor méri a chipen keresztülhaladó fény változásait. A művelet több szögben is megismétlődik, ezzel részletes képet adva a chip belső világáról.

A mérést követően egy számítógép 3 dimenziós képpé alakítja az egyedi, különböző szögekben készített képeket – hasonlóan ahhoz, ahogy 3D-s képet kapunk egy különböző perspektívákból fényképezett tárgyról.

Áramkörök és tranzisztorok részletesebb képe

Az eljárás tesztelése érdekében kutatók elsőként egy mikrochipet vizsgáltak; egy olyan struktúrát, amit már ismertek. A felvételen megbízható minőségben láthatóak voltak olyan komponensek, mint a tranzisztor vagy akár az áramkör 45 nanométeres nagyságú területe – ez a méret az emberi hajszál vastagságának körülbelül egy ezred része. Kutatók a módszer segítségével ismeretlen struktúrájú chipnek is el tudták készíteni a részletes tervrajzát.

„Az általunk megalkotott képalkotási technológia hasonló a hagyományos vizsgálati módszerhez”, magyarázza Holler. Azonban két jelentős előnnyel rendelkezik: „Elsősorban a mintadarab sértetlen maradt és megszereztük a háromdimenziós struktúrához tartozó mindennemű információt. Másodsorban elkerüljük a képek torzítását, ami elektronmikroszkóp által készített felvételeknél fennáll, mikor a különálló rétegek felülete nem teljesen párhuzamosak egymással.”

 

Felvétel egy mikrochip mintadarabjáról készült 3D-s tervrajzról (© Paul Scherrer Institut(Mirko Holler)

Egész chipek a jövőben

Kutatók állítása szerint módszerük alkalmas az összes hagyományos mikrochip mérésére és minőségellenőrzésére. A chipen belüli összeköttetések megbízható vizsgálata rendkívül fontos annak érdekében, hogy a minőség garantálható legyen – különösen jelentős mindez az egészségügyben vagy a repülés technológiában, ahol egy meghibásodott chip emberéleteket veszélyeztethet.

Az eddig megszokott mérési elrendezés maximum 10 mikrométer átmérőjű mintadarabok vizsgálatát tette lehetővé, melyet a chipből el kell távolítani. Ezzel a módszerrel a vizsgálathoz a chipet tönkre kell tenni, azonban a jövőben ez megváltozhat: „ A fejlesztés alatt álló eljárásunk lehetővé teszi egész mikrochipek vizsgálatát, mindezt elfogadható időn belül”, ismerteti Gabriel Aeppli társszerző. „A módszerrel az is elképzelhető, hogy a chipnek ugyanazon részét többször is megvizsgáljuk, ezáltal láthatjuk, hogyan változik a külső, környezeti hatásokra.”

 

Forrás: www.scinexx.de

 

Virág Dávid

Cikk értékelése: 
Szerző: Brigitte

Új hozzászólás

Filtered HTML

  • A webcímek és email címek automatikusan kattintható hivatkozásokká alakulnak.
  • Engedélyezett HTML jelölők: <a> <em> <strong> <cite> <blockquote> <code> <ul> <ol> <li> <dl> <dt> <dd> <br> <p>
  • A sorokat és bekezdéseket a rendszer automatikusan felismeri.

Plain text

  • A HTML jelölők használata nem megengedett.
  • A webcímek és email címek automatikusan kattintható hivatkozásokká alakulnak.
  • A sorokat és bekezdéseket a rendszer automatikusan felismeri.
CAPTCHA
Ezzel a feladattal teszteljük, hogy valódi látogató vagy-e.

Kapcsolódó cikkek

Elérték a fluoreszcens mikroszkópia végső felbontási határát.
Szupernehéz elemek eddig ismeretlen izotópjait hozták létre kutatók
Egy új projekt kapcsán sikerült olyan 3D-s elemeket nyomtatni, melyek képesek az alakváltozásra.
A semleges molekulák közötti vonzóerő távolabbra ér el, mint azt korábban gondolták

Friss hírek

E-hajtómű? Miért ne?